An approach to reduce over-testing of path delay faults in data paths using RT-level information

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タイトル
An approach to reduce over-testing of path delay faults in data paths using RT-level information
著者
Yuki Yoshikawa, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara

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詳細情報

  • CRID
    1010000781949030662
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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