Local electronic structure analysis using a photoelectron emission microscope (PEEM) with hard X-ray

書誌事項

タイトル
Local electronic structure analysis using a photoelectron emission microscope (PEEM) with hard X-ray
著者
M.Kotsugi et al.
公開日
2006
資源種別
journal article

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010000781950383361
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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