X回線折法によるナノ材料の界面構造の迅速評価
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- 坂田 修身
- 財団法人高輝度光科学研究センター
書誌事項
- タイトル
- X回線折法によるナノ材料の界面構造の迅速評価
- 著者
- 坂田修身、吉本護、三木一司
収録刊行物
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- セラミックス 岡山 15
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セラミックス 岡山 15 49-52, 2007
