Recent Novel X-ray Reflectivity Techniques : Moving Towards Quicker Measurement to observe Changes at Surface and Buried Interfaces

書誌事項

タイトル
Recent Novel X-ray Reflectivity Techniques : Moving Towards Quicker Measurement to observe Changes at Surface and Buried Interfaces
著者
K.Sakurai, M.Mizusawa, M.Ishii

収録刊行物

関連プロジェクト

もっと見る

詳細情報

  • CRID
    1010000781986125184
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

問題の指摘

ページトップへ