Tests of muon monitor detectors for the T2K expperiment
書誌事項
- タイトル
- Tests of muon monitor detectors for the T2K expperiment
- 著者
- H. Kubo, T. Nakaya, et. al.
収録刊行物
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- Beam Science Technology 11
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Beam Science Technology 11 7-, 2008
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詳細情報
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- CRID
- 1010000782053660546
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- 資料種別
- journal article
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- データソース種別
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- KAKEN