SiNx絶縁ゲートGaAsエッチングナノワイヤFETにおける低周波雑音特性の評価
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- KASAI Seiya
- 北海道大学
Bibliographic Information
- Title
- SiNx絶縁ゲートGaAsエッチングナノワイヤFETにおける低周波雑音特性の評価
- Author
- 村松徹、三浦健輔、白鳥悠太、葛西誠也
Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告（電子デバイス）
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電子情報通信学会技術研究報告（電子デバイス） 111、IEICE-ED-167 31-34, 2011
- Tweet
Details
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- CRID
- 1010000782173123492
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- Article Type
- journal article
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- Data Source
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- KAKEN