著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
,極薄SOI膜のゼーベック係数制御とナノ構造熱電特性測定技術の構築,信学技報,,,2014,"ED2013-137, SDM2013-152",,31-35,https://cir.nii.ac.jp/crid/1010000782219417613,