超伝導薄膜の特性測定

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タイトル
超伝導薄膜の特性測定
著者
岩下 芳久,頓宮 拓,不破 康裕,早野仁司, 佐伯 学行,久保 毅幸

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010000782309983115
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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