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Characterization of nonvolatile memory behaviors of Al/poly (vinylidene fluoridetrifluoroethylene)/Al_2O_3/ZnO thin-film transistors

書誌事項

タイトル
Characterization of nonvolatile memory behaviors of Al/poly (vinylidene fluoridetrifluoroethylene)/Al_2O_3/ZnO thin-film transistors
著者
S-M.Yoon, S-H.Yang, C-W.Byun, S-H.K.Park, S-W.Jung, D-H.Cho, S-Y.Kang, C-S.Hwang, H.Ishiwara

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詳細情報

  • CRID
    1010000782461472522
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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