50 nm gate electrode patterning using a neutral-beam etching system

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タイトル
50 nm gate electrode patterning using a neutral-beam etching system
著者
野田周一

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010282256781795587
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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