著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
平方 寛之,クロム微小ドットの酸化シリコン基板からのはく離発生強度評価,日本学術会議第48回材料研究連合講演会講演論文集,,,2004,,,356-357,https://cir.nii.ac.jp/crid/1010282256867826692,