Building highly transferable interatomic models for atomistic simulation of device reliability

書誌事項

タイトル
Building highly transferable interatomic models for atomistic simulation of device reliability
著者
Yoshitaka Umeno and Atsushi Kubo

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詳細情報

  • CRID
    1010282256897133570
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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