Surface Depth Analysis for Fluorinated Block Copolymer Films by X-ray Photoelectron Snectrosconv Using C_60Cluster Ion Beam
書誌事項
- タイトル
- Surface Depth Analysis for Fluorinated Block Copolymer Films by X-ray Photoelectron Snectrosconv Using C_60Cluster Ion Beam
- 著者
- K.Tanaka, 他5名
収録刊行物
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- Appi. Surface Sci 254(17)
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Appi. Surface Sci 254(17) 5435-5438, 2008
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詳細情報
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- CRID
- 1010282256984081024
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- 資料種別
- journal article
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- データソース種別
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- KAKEN