Surface Depth Analysis for Fluorinated Block Copolymer Films by X-ray Photoelectron Snectrosconv Using C_60Cluster Ion Beam

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タイトル
Surface Depth Analysis for Fluorinated Block Copolymer Films by X-ray Photoelectron Snectrosconv Using C_60Cluster Ion Beam
著者
K.Tanaka, 他5名

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詳細情報

  • CRID
    1010282256984081024
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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