Development of Noncontact Atomic force Microscopy Operating at Low Temperatures

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タイトル
Development of Noncontact Atomic force Microscopy Operating at Low Temperatures
著者
Y. Sugawara, Y. Naitoh, M. Kageshima and Y. J. Li

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詳細情報

  • CRID
    1010282257005353621
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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