Correlation between intrinsic defects and electrical properties in highquality Cu_2ZnSnS_4 single crystal

書誌事項

タイトル
Correlation between intrinsic defects and electrical properties in highquality Cu_2ZnSnS_4 single crystal
著者
A. Nagaoka, H. Miyake, T. Taniyama, K. Kakimoto, and K. Yoshino

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010282257415219591
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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