Ab initio Study of theSurface Properties and Ideal Strengthof (100) Silicon Thin Films

書誌事項

タイトル
Ab initio Study of theSurface Properties and Ideal Strengthof (100) Silicon Thin Films
著者
Yoshitaka Umeno, Akihiro Kushima, Takayuki Kitamura, Peter Gumbsch, Ju Li

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詳細情報

  • CRID
    1010282257467096331
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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