著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
王 森レイ and 樋上 喜信 and 高橋 寛,マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法,電子情報通信学会技術報告,,,2020,DC2020-75,,36-41,https://cir.nii.ac.jp/crid/1010290617251372674,