高エネルギーX線用符号化開口を用いたコンプトン散乱X線イメージングの高度化
研究課題情報
- 体系的番号
- JP23K23371 (JGN)
- 助成事業
- 科学研究費助成事業
- 資金配分機関情報
- 日本学術振興会(JSPS)
科研費情報
- 研究課題/領域番号
- 23K23371
- 研究種目
- 基盤研究(B)
- 配分区分
-
- 基金
- 補助金
- 審査区分/研究分野
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- 小区分34020:分析化学関連
- 研究機関
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- 群馬大学
- 研究期間 (年度)
- 2024-04-01 〜 2026-03-31
- 研究課題ステータス
- 交付
- 配分額*注記
- 17,290,000 円 (直接経費: 13,300,000 円 間接経費: 3,990,000 円)
研究概要
蓄電デバイスの高性能化は、持続可能な社会の実現に不可欠であるが、蓄電デバイスの高性能化を妨げる要因として、イオン分布の偏りがある 。本研究は、これまで申請者らが開発してき た高エネルギー放射光X線コンプトン散乱法による非破壊定量分析法に符号化開口イメージング技 術を導入することで、実用蓄電デバイス内部の動的な構造変化やイオン分布の偏りを非破壊かつ、高い時間分解能で測定し、イオン分布の偏り を定量的に可視化するとともに、その抑制指針を得ることを目指す。本研究に より符号化開口を用いた高エネルギー放射光X線イメージング分 野を構築し、持続可能な社会の実現を加速化する高性能な蓄電デバイス設計指針を示す。
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