著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
"山口, 潤己 and 張, 魁元 and 古田, 潤 and 小林, 和淑",低電力向け65nmプロセスにおける回路およびレイアウト構造の相違によるソフトエラー耐性の評価,DAシンポジウム2014論文集,,,2014-08-21,2014,,191-196,https://cir.nii.ac.jp/crid/1050011097143277824,