書誌事項
- タイトル別名
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- Temperature Dependence of X-Ray Emission Behavior from Stacked Pyroelectric Single Crystals
- セキソウ シタ ショウデンケッショウ ニ ヨル Xセン ハッセイ キョドウ オヨビ ソノ オンド イソンセイ
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抄録
<p>積層させた薄片状タンタル酸リチウムまたはニオブ酸リチウム単結晶とセラミックヒーターを用いた小型高電場発生デバイスを製作し，これまでの検討より高温領域である室温から650 Kまでの間でX線発生実験を行った．473 Kから650 Kまで10-4 Pa下で加熱すると最高28 keVのX線が発生した．積層させた焦電結晶の側面では温度変化に伴い局所的な放電が繰り返し起こった．焦電結晶の形状と放電発生について議論した．</p>
収録刊行物
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- Ｘ線分析の進歩
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Ｘ線分析の進歩 45 (0), 327-334, 2014-03-31
公益社団法人 日本分析化学会 X線分析研究懇談会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390016272552333568
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- NII論文ID
- 120006411720
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- NII書誌ID
- AN0000592X
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- ISSN
- 27583651
- 09117806
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- NDL書誌ID
- 025463613
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- IRDB
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用可