著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
"金田, 寛 and 大村, 一郎",平行デュアルレーザビーム法によるシリコンウェーハのバルクキャリア寿命評価技術,電子デバイス/半導体電力変換合同研究会,,一般社団法人電気学会,2016-11-15,2016,63-77,EDD-16-073,https://cir.nii.ac.jp/crid/1050574047135176576,