Test Cost Reduction for Logic Circuits——Reduction of Test Data Volume and Test Application Time——

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  • 論理回路に対するテストコスト削減法―テストデータ量及びテスト実行時間の削減―
  • ロンリ カイロ ニ タイスル テストコスト サクゲンホウ テストデータリョウ オヨビ テスト ジッコウ ジカン ノ サクゲン
Published
2004-03-01
Resource Type
journal article
Rights Information
  • 一般社団法人電子情報通信学会
Publisher
電子情報通信学会

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論理回路の大規模化とともに,テストコストの増大が深刻な問題となっている.特に大規模な論理回路では,テストデータ量やテスト実行時間の削減が,テストコスト削減の重要な課題である.本論文では,高い故障検出率のテストパターンをできるだけ少ないテストベクトル数で実現するためのテストコンパクション技術,付加ハードウェアによるテストデータの展開・伸長を前提に圧縮を行うテストコンプレッション技術,及び,スキャン設計回路におけるテスト実行時間削減技術について概説する.

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