著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
"樋上, 喜信 and 梶原, 誠司 and 市原, 英行 and 高松, 雄三",論理回路に対するテストコスト削減法―テストデータ量及びテスト実行時間の削減―,"電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理",09151915,電子情報通信学会,2004-03-01,J87-D-1,3,291-307,https://cir.nii.ac.jp/crid/1050845763841143680,