著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
"小島, 健太郎 and 古田, 潤 and 小林, 和淑 and Kentaro, Kojima and Jun, Furuta and Kazutoshi, Kobayashi",デバイスシミュレーションを用いたFDSOIプロセスにおけるラッチ構造の違いによるソフトエラー耐性の基板電圧依存性の評価,DAシンポジウム2019論文集,,情報処理学会,2019-08-21,2019,,154-159,https://cir.nii.ac.jp/crid/1050855522065622400,