著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
"辻原, 拓弥 and 福安, 直樹 and 満田, 成紀 and 松延, 拓生 and 鯵坂, 恒夫",不具合報告事例分析に基づくテスト設計によるプロセス改善に関する考察,2018年度 情報処理学会関西支部 支部大会 講演論文集,1884-197X,[京都] : [情報処理学会関西支部],2018-09-21,2018,,6p,https://cir.nii.ac.jp/crid/1050855522100002304,