著者名,書名,版表示,出版者名,出版年,シリーズ名,番号,ISBN,ISSN,URL "東田, 賢二",赤外光弾性法を用いた半導体結晶中の格子欠陥内部応力その場観察法の開発,,[九州大学],2001,科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000793741545984