著者名,書名,版表示,出版者名,出版年,シリーズ名,番号,ISBN,ISSN,URL "広瀬, 幸雄",二次元的X線検出器を利用した新しい迅速残留応力測定法に関する研究,,[広瀬幸雄],1998,科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000794865960448