著者名,書名,版表示,出版者名,出版年,シリーズ名,番号,ISBN,ISSN,URL "橋詰, 保",欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化,,[北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター],2007,科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000795711876992