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"神谷, 庄司",二軸制御マイクロインデンテーションによる薄膜付着強度の新規計測手法の確立,,[神谷庄司],2000,科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000795967874176