電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討

CiNii

Bibliographic Information

Title
"電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討"
Statement of Responsibility
研究代表者柿本浩一
Publisher
  • [九州大学]
Publication Year
  • 2000.3
Book size
30cm
Other Title
  • デンシ デバイスヨウ バルク タンケッショウチュウ ノ ケッカン ケイセイ カテイ ノ ケントウ
  • 平成9年度-平成11年度科学研究費補助金(基盤研究C(2))研究成果報告書(09650813)

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1130000796022255744
  • NII Book ID
    BA46682070
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    ja
  • Place of Publication
    • [福岡]
  • Data Source
    • CiNii Books
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