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"小林, 大輔 (半導体工学)",組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術,,[小林大輔],2008,科学研究費補助金(基盤研究C)研究成果報告書,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000796920329216