Author,Title,Edition,Publisher,Year,Series,Number,ISBN,ISSN,URL
"宇佐美, 晶 and 徳田, 豊",半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として,,リアライズ・アドバンストテクノロジ,2006,Basic selection,,9784898080528,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000797129912320