著者名,書名,版表示,出版者名,出版年,シリーズ名,番号,ISBN,ISSN,URL
"谷口, 研二",超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究,,大阪大学工学部,1991,科学研究費補助金(一般研究C)研究成果報告書,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000797832894720