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"二川, 清 and 上田, 修 ( 工学) and 山本, 秀和 and 信頼性技術叢書編集委員会",半導体デバイスの不良・故障解析技術,,日科技連出版社,2019,信頼性技術叢書,,9784817196859,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130003903099155072