著者名,書名,版表示,出版者名,出版年,シリーズ名,番号,ISBN,ISSN,URL "桜井, 健次 and 平野, 馨一 and 高エネルギー加速器研究機構",X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析,,High Energy Accelerator Research Organization (KEK),2002,KEK proceedings,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282268692777088