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"富取, 正彦",電圧印加非接触原子間力顕微鏡法/分光法による機能ナノ構造界面の電子物性計測,,[富取正彦],2008,科学研究費補助金(基盤研究A)研究成果報告書,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269526319744