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"永山, 政一",XPS-SIMSによる固体の表面層内化学種の状態別定量分析に関する研究,,[北海道大学工学部],1980,科学研究費補助金(一般研究(B))研究成果報告書,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269839399424