著者名,書名,版表示,出版者名,出版年,シリーズ名,番号,ISBN,ISSN,URL "阿部, 博史",脳虚血耐性現象の遺伝子発現からのアプローチ : DC potential計測を虚血負荷の客観的指標とした検討,,[阿部博史],1999,科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269891290624