著者名,書名,版表示,出版者名,出版年,シリーズ名,番号,ISBN,ISSN,URL 工業所有権協力センター and 比較法研究センター,システムLSIの設計資産に関する調査研究,,工業所有権協力センター,2000,半導体集積回路保護に関する調査研究,,,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282270471415552