著者名,タイトル,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
Tsunemi E,Multi‐probe atomic force microscopy with optical beam deflection method,Jpn J Appl Phys,,,2007,46,5636,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1370016862284992640,