著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
林 泰夫 and 松本 潔,二次イオン質量分析法による多層薄膜界面の評価におけるCsX^+二次イオン検出の有効性,分析化学,05251931,公益社団法人 日本分析化学会,1991,40,4,159-162,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204051419776,https://doi.org/10.2116/bunsekikagaku.40.4_159