著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
奥田 和明 and 伊藤 秋男,X線光電子分光法による薄い金属表面酸化膜の膜厚測定(<特集>表面・界面・薄膜と分析化学),分析化学,05251931,公益社団法人 日本分析化学会,1991,40,11,691-696,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204052053120,https://doi.org/10.2116/bunsekikagaku.40.11_691