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住友 弘二 and 尾身 博雄 and ZHANG Zhaohui and 荻野 俊郎,中速イオン散乱法（ＭＥＩＳ）と走査型トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）による表面ナノ構造の解析,真空,05598516,一般社団法人 日本真空学会,2006,49,5,277-281,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204064805760,https://doi.org/10.3131/jvsj.49.277