著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
藤本 勲,外場によるミクロ構造の変化 変調Ｘ線回折法による測定法,日本結晶学会誌,03694585,日本結晶学会,1983,25,5,248-259,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204086559104,https://doi.org/10.5940/jcrsj.25.248