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阿部 秀夫 and 松浦 孝浩 and 井田 勇人 and 渡辺 徹,電鋳の離型性評価のための真鍮およびニッケル基板上の電鋳ニッケル膜の剥離挙動解析,表面技術,09151869,一般社団法人 表面技術協会,2006,57,7,515-523,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204117437952,https://doi.org/10.4139/sfj.57.515