Theory of the External Photoelectric Effect in Semiconductor. Part I. BaO–, SrO–, and Cu<SUB>2</SUB>O–Semiconductors Behaviours of the Photosensitivity near Threshold

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• CRID

  1390001204193575424

• NII論文ID

  210000078486

  130003890975

• DOI

  10.1143/jpsj.2.187

• ISSN

  13474073

  00319015

• Web Site

  http://journals.jps.jp/doi/pdf/10.1143/JPSJ.2.187

• 本文言語コード

  en

• データソース種別

  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles