著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
Lee Woei-Shyan and Chen Tao-Hsing and Lin Chi-Feng and Wu Cheng-Lun,Microstructural Evolution of Nanoindented Ag/Si Thin-Film under Different Annealing Temperatures,MATERIALS TRANSACTIONS,13459678,公益社団法人 日本金属学会,2011,52,10,1868-1875,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204250621056,https://doi.org/10.2320/matertrans.m2011160