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河合 晃 and 川上 喜章,原子間力顕微鏡 (AFM) を用いた微細探針走査法による フォトレジスト微細パターンの接着性解析,Journal of The Adhesion Society of Japan,09164812,一般社団法人 日本接着学会,2000,36,1,2-9,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204275232896,https://doi.org/10.11618/adhesion.36.2