著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
阿部 真之 and 杉本 宜昭 and 森田 清三,ナノスケール計測におけるロバストネス : 走査型プローブ顕微鏡の新技術(<特集>ロバストネスを探る),システム／制御／情報,09161600,一般社団法人 システム制御情報学会,2011,55,4,141-146,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204304485504,https://doi.org/10.11509/isciesci.55.4_141