著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
福田 光男 and 大橋 弘美,光半導体デバイスの信頼性,日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,1998,20,6,376-384,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204452070144,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.20.6_376